Durch die automatisierte Bildaufnahme und das Ausführen vordefinierter Bildverarbeitungsschritte haben Systeme der automatischen optischen Inspektion (AOI) die manuelle Inspektion in der Elektronikfertigung weitestgehend verdrängt. In den letzten Jahren wurden zahlreiche Ansätze untersucht, welche einzelne Aspekte der optischen Qualitätssicherung durch die Anwendung von Methoden der künstlichen Intelligenz (KI) deutlich verbessern. Darauf aufbauend stellt diese Arbeit ein Modell mit fünf Phasen vor, welches die Entwicklungsschritte auf dem Weg zur vollautonomen Inspektion abbildet. Um die Umsetzung dieses Modells zu tragen, zeigt diese Arbeit ein neues Architekturmuster auf, welches Lösungen auf Basis von künstlicher Intelligenz trainieren und ausführen kann. Die hohe Flexibilität der neuen Architektur ermöglicht die Auslieferungen auf einer Menge heterogener Systeme und damit viele Anwendungen von künstlicher Intelligenz über das Feld der optischen Inspektion hinaus.